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Dokumententyp: Tutorium
Von NI unterstützt: Ja
Veröffentlichungsdatum: 25.07.2008

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Neueste Prüfsysteme entwickeln – Eine detaillierte Anleitung

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Übersicht

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National Instruments, ein führendes Unternehmen in der Automatisierungsbranche, stellt Hardware- und Softwareprodukte zur Verfügung, mit denen Anwender Prüfsysteme der neuesten Generation entwickeln können. Diese Anleitung soll Sie bei der Entwicklung von Prüfsystemen unterstützen, welche die Kosten senken, den Prüfdurchsatz erhöhen und eine Systemarchitektur bieten, die an künftige Anforderungen angepasst werden kann.

Sie können den gesamten Leitfaden "Designing Next Generation Test Systems" als PDF-Dokument (ca. 90 Seiten, engl.) kostenfrei herunterladen.

Die nachfolgenden technischen Dokumente (dt. und engl.) sind eine Auswahl an Whitepapern, Tutorien und Kundenlösungen, die dem Leitfaden entnommen sind.

Inhaltsverzeichnis

  1. Kurzfassung : Entwicklung von Prüfsystemen der nächsten Generation
  2. Leitfaden " Designing Next Generation Test Systems"
  3. Strategien zur Verbesserung der Leistung von Prüfsystemen
  4. Fallstudien und Kundenlösungen

Kurzfassung : Entwicklung von Prüfsystemen der nächsten Generation

 

Testmanager und -ingenieure implementieren immer mehr modulare, softwaredefinierte Prüfarchitekturen auf Grundlage weit verbreiteter Industriestandards und bieten damit: 

  • Erhöhte Flexibilität des Prüfsystems
  • Architekturen mit höherer Leistung
  • Geringere Investitionen in Prüfsysteme
  • Erhöhte Langlebigkeit des Prüfsystems

Mehr zu diesen Entwicklungen erfahren Sie in der

Kurzfassung: Entwicklung von Prüfsystemen der nächsten Generation  

 

Leitfaden " Designing Next Generation Test Systems"



1. Testmanagementsoftware zur Reduzierung von Entwicklungszyklen und -kosten

  • Entwicklung einer modularen Softwarearchitektur
  • Trends und Herausforderungen in der Industrie
  • Einzelheiten über die modulare Prüfsoftwareplattform

2. Welche Software für welche Applikation? 
  • Auswahlkriterien für eine Entwicklungsumgebung
  • Vergleich zwischen LabVIEW, LabWindows/CVI und Microsoft Visual Studio .Net (C++, Visual Basic .Net, C#, und ASP.NET)

3. Hybride Systeme: Integration von Testsystemen mit mehreren Plattformen und von mehreren Herstellern
  • Was ist ein hybrides System? - eine Definition 
  • Tipps zur Entwicklung eines Testsystems

4. Die Leistung von Bussystemen – Verschiedene Bustechnologien für die Gerätesteuerung 
  • Leistung von Bussystemen im Detail, einschließlich Bandbreite und Latenz
  • Vergleich der Busse für die Gerätesteuerung: GPIB, USB, PCI, PCI Express und LAN/LXI

5. Aufbau eines Systems mit modularen Messgeräten für automatisierte Tests
  • Vergleich von Architekturen basierend auf traditonellen und virtuellen Instrumenten
  • Die Rolle von Hardware und Software in einem System mit modularen Messgeräten

6. PXI: Die industrielle Plattform für PC-gestützte Messgeräte
  • Hardware- und Softwarearchitektur
  • Vorteile von PXI Express


7. Intelligente Datenarchivierung und -verwaltung zur Sicherstellung einer optimalen Ausnutzung der archivierten Messdaten

  • Archivieren gut dokumentierter, sich selbst erklärender Messdaten
  • Minimierung von Kosten und IT-Aufwand für die Datenverwaltung
  • Effiziente und skalierbare Datenrecherche und -auswertung

 

Strategien zur Verbesserung der Leistung von Prüfsystemen

 

8. Maximierung des Durchsatzes von automatisierten Prüfsystemen (engl.)

  • Tipps zur Auswahl eines Bussystems mit dem für die jeweilige Anwendung besten Durchsatz
  • Auswahl von Software, die die Prozessortechnologie voll ausnutzt

9. Tipps zur Verbesserung der Genauigkeit eines automatisierten Prüfsystems (engl.) 
  • Gerätespezifikationen verstehen
  • Anforderungen an die Kalibrierung beachten

10. Entwicklung und Wartung eines Prüfsystems mit Hinblick auf Langlebigkeit (engl.)
  • Was bei Hardware und Software zu beachten ist
  • Was bei Wartung und Support zu beachten ist

Fallstudien und Kundenlösungen

 

11. HF-Fallstudie: SDR-Architektur für Tests in der Telekommunikation

12. Microsoft entwickelt mit NI LabVIEW und PXI-gestützten modularen Messgeräten Produktprüfsystem für Controller der Xbox 360

13.  Modular Instruments TestSystem für drahlose Mikrofonstrecken

14. Entwicklung von Prüfsystemen für Automotive Multimedia Systeme auf Basis der Testerplattform TAVT

 

 

Weiterführende Informationen:

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AGB
Dieses Tutorium ("Tutorium") wurde von National Instruments ("NI") entwickelt. Auch wenn National Instruments dieses Tutorium technisch unterstützt, ist es jedoch möglich, dass dieses Tutorium nicht umfassend getestet und überprüft wurde. NI übernimmt weder Garantien bezüglich der Qualität des Tutoriums noch bezüglich der weiteren technischen Unterstützung neuer Versionen ähnlicher Produkte und Treiber. DIESES TUTORIUM WIRD IM "IST-ZUSTAND" ZUR VERFÜGUNG GESTELLT UND NI ÜBERNIMMT KEINERLEI GARANTIEN. AUSFÜHRLICHERE ERLÄUTERUNGEN ZU ANDEREN EINSCHRÄNKUNGEN ENTNEHMEN SIE BITTE DEN NUTZUNGSBEDINGUNGEN AUF NI.COM (http://ni.com/legal/termsofuse/unitedstates/us/).