デジタイザ/オシロスコープの基礎
印刷
概要
このチュートリアルでは、ナショナルインスツルメンツの高速デジタイザを使用して、効率の最もよいデータサンプリングシステムを構築するためのヒントやテクニックについて説明します。また、高速デジタイザを使用したサンプリングの基本となる理論や、データサンプリングのパフォーマンスを最適化するためのさまざまな方法についての基礎的な情報を説明します。
デジタイザの基本
 |
帯域幅、サンプルレート、ナイキスト定理 |
 |
分解能 |
 |
レコード長、垂直レンジとオフセット、入力カプリング、およびプローブ |
 |
周波数領域測定の基礎知識 このチュートリアルは、フラットネス、スプリアスフリーダイナミックレンジ（SFDR）、SN比（SNR）、全高調波歪み（THD）、およびSINADを含むデジタイザの諸特性が測定に与える影響を説明します。 さらに詳細なチュートリアルを表示 >> |
 |
FFT解析 |
 |
ビデオ信号測定および生成の基本 |
 |
高速デジタイザでのトリガ機能 |
デジタイザを使用したユーザアプリケーション
サンプルプログラム
 |
|
リソース
 |
|
参考資料
法律関連事項
本チュートリアル（以下「チュートリアル」という）は、National Instruments（以下「NI」という）によって作成されたものです。本チュートリアルは、NIにてサポートされていますが、本チュートリアルの内容に関するテストや検査が完全に行われていない可能性があり、チュートリアルの品質について、もしくは、関連製品およびドライバの各改訂版に対するサポート継続については、何らの保証も適用されません。本チュートリアルは、いかなる保証もなく「作成された状態のまま」で提供されており、ni.com/jpの使用条件に特別に規定されている特定の制約事項に従うものとします。 (http://ni.com/legal/termsofuse/japan/ja/)