高速デジタイザチュートリアル
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概要
このチュートリアルでは、ナショナルインスツルメンツの高速デジタイザを使用して効率的な計測システムを構築するためのヒントやテクニックについて説明します。本チュートリアルでは、データサンプリングの性能の向上を図るため、高速デジタイザや様々な方式によるサンプリングの理論についての基本情報を解説します。
時間領域計測の基本
| 帯域幅、サンプルレート、ナイキスト定理 | ナイキスト周波数を超えた周波数におけるエイリアスとサンプリング |
| 分解能 | レコード長と大容量メモリ |
| 垂直範囲とオフセット | 入力カプリング |
| インピーダンスとインピーダンスマッチング | プローブとその効果 |
| プローブ補償 | 正確な計測を行うための基本情報 |
周波数領域計測の基本
| 平坦性 | SN 比 |
| スプリアスフリーダイナミックレンジ（SFDR） | 全高調波歪み（THD） |
| 信号・ノイズ・歪み比（SINAD） | 計測器の比較 |
| ナイキスト周波数を超えた周波数におけるエイリアスとサンプリング |
FFT 解析
| FFT 解析 | スペクトルリーク |
| スペクトルリークを軽減するスムージングウィンドウ |  |
ビデオ信号計測の基本
| コンポジットビデオ信号 | ビデオ信号の成分 |
| ビデオフォーマット | カラーコーディング |
| ビデオレベル | インターレーススキャン |
| アクティブ画像 | グレースケール画像と抽出したラインプロファイル |
| NTSC フレームの全スキャン | NI 5122/5124 ビデオトリガ |
サンプリング方式
| リアルタイムサンプリング | 等価時間サンプリング（ETS）とランダムインタリーブサンプリング（RIS） |
| オーバーサンプリングによる有効サンプルレートの向上 | 平均化によるノイズの低減 |
| RIS 集録のランダム性 |
デジタイザを使ったトリガ
| トリガとは？ | 即時トリガ |
| ソフトウェアトリガ | エッジトリガ |
| ウィンドウトリガ | ヒステリシストリガ |
| デジタルトリガ | ビデオトリガ |
| NI 5122/5124 ビデオトリガ |
Synchronization and Memory Core
| 柔軟な入力/出力データ | 入力データ伝送コア |
| 出力データ伝送コア | 高速の大容量オンボードメモリ |
| 高精度タイミング/同期エンジン | サンプルレートの異なる信号の同期 |
| 計測器ドライバソフトウェア | 計測スループットの向上 |
| まとめ | 不可欠な同期テクノロジ（TClk） |
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| 外部サンプルクロックの使用目的 |
参考文献・資料
| 全機能を高速デジタイザでサポート | 高速デジタイザ製品の概要と選択ガイド |
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法律関連事項
本チュートリアル（以下「チュートリアル」という）は、National Instruments（以下「NI」という）によって作成されたものです。本チュートリアルは、NIにてサポートされていますが、本チュートリアルの内容に関するテストや検査が完全に行われていない可能性があり、チュートリアルの品質について、もしくは、関連製品およびドライバの各改訂版に対するサポート継続については、何らの保証も適用されません。本チュートリアルは、いかなる保証もなく「作成された状態のまま」で提供されており、ni.com/jpの使用条件に特別に規定されている特定の制約事項に従うものとします。 (http://ni.com/legal/termsofuse/japan/ja/)