PXI を使って半導体テストの品質を向上

概要

PXI プラットフォームと NI TestStand を使って半導体テストの柔軟性を高めつつコストを削減する方法をビデオでご覧いただけます。DC パラメトリック解析用の新しい高精度ハードウェアや、デジタル、ミックスドシグナル、RF など機能テスト用の多彩なモジュールを使用して、テストニーズの変化に柔軟に対応できるスケーラブルな計測システムを構築できます。

ビデオを見る 3 分 デモ 必要なアプリケーション Adobe Flash

次のステップ

「PXI を使って半導体テストの品質を向上」ビデオをご覧いただきありがとうございました。ビデオの中でご紹介しました製品の詳細については、下記リンク先をご覧ください。

• NI TestStand のセットアップデモ（所要時間：1分 - 英語）
• システムを独自の仕様に構成
• デモ： PXI を使用した DC パラメトリックテスト
• デモ： PXI を使用したデジタルテスト（英語）
• デモ： PXI を使用したミックスドシグナルテスト（英語）

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