PXI を使用した DC パラメトリックテスト

概要

このWebイベントでは、PXI　対応の高精度モジュール式計測を用いて、半導体デバイスのDCパラメトリックテストを行うための柔軟な計測システムを構築する方法をご覧いただけます。

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